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  1. 研究論文

Transmission electron microscopy characterization of the initial stage of epitaxial growth of GaP on Si by low-pressure metalorganic chemical vapor deposition

https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/4086
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/4086
d4c9fb4d-160c-459c-8a90-6df2e8a4bcba
名前 / ファイル ライセンス アクション
APL 本文_fulltext (362.0 kB)
Copyright (1991) American Institute of Physics. This article may be downloaded for personal use only. Any other use requires prior permission of the author and the American Institute of Physics.The following article appeared in Applied physics letters, 58(19), pp.2108-2110; 1991 and may be found at http://link.aip.org/link/?apl/58/2108
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2012-11-06
タイトル
タイトル Transmission electron microscopy characterization of the initial stage of epitaxial growth of GaP on Si by low-pressure metalorganic chemical vapor deposition
言語 en
言語
言語 eng
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
著者 曾我, 哲夫

× 曾我, 哲夫

en Soga, Tetsuo

ja 曾我, 哲夫
ISNI

ja-Kana ソガ, テツオ


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George, T.

× George, T.

en George, T.

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Suzuki, T.

× Suzuki, T.

en Suzuki, T.

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Jimbo, Takashi

× Jimbo, Takashi

en Jimbo, Takashi

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Umeno, Masayoshi

× Umeno, Masayoshi

en Umeno, Masayoshi

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Weber, E. R.

× Weber, E. R.

en Weber, E. R.

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著者別名
姓名 Soga, Tetsuo
言語 en
姓名 曾我, 哲夫
言語 ja
姓名 ソガ, テツオ
言語 ja-Kana
著者別名
姓名 神保, 孝志
著者別名
姓名 梅野, 正義
bibliographic_information en : APPLIED PHYSICS LETTERS

巻 58, 号 19, p. 2108-2110, 発行日 1991-05-13
出版者
出版者 American Institute of Physics
言語 en
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 0003-6951
item_10001_source_id_32
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA00543432
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
item_10001_relation_34
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ DOI
関連識別子 http://dx.doi.org/10.1063/1.104975
関連名称 10.1063/1.104975
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 The initial stage of epitaxial growth of GaP on Si by low‐pressure metalorganic chemical vapor deposition was characterized by transmission electron microscopy. The growth mode changes from three‐dimensional to two‐dimensional with increasing V/III ratio. GaP on Si grown at a low V/III ratio of 800 contains many dislocations, stacking faults, and microtwins; however, a significant reduction in the density of these defects is observed in GaP grown at high V/III ratio of 3200.
言語 en
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Ver.1 2023-05-15 13:54:42.691015
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