@article{oai:nitech.repo.nii.ac.jp:00005424,
 author = {山本, 典央 and 高, 義礼 and 藤原, 修},
 issue = {2},
 journal = {電子情報通信学会論文誌. B, 通信},
 month = {Feb},
 note = {ESDガンを水平結合板上面に鉛直下方（旧規格）と垂直方向（新規格）とで放電させ，回路基板パターン上の誘導電圧を測定した結果，後者の方がピークは数分の一小さく，放電位置依存性も小さいことから，新旧の規格で試験結果に差異の生じる可能性が分かった．, application/pdf},
 pages = {502--505},
 title = {水平結合板の間接放電時に対するESD試験法の供試品へ及ぼす影響比較},
 volume = {J92-B},
 year = {2009}
}