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アイテム / Si基板上の縦型GaN系デバイスとGaNにおける欠陥解析に関する研究 / trnit2018_1
trnit2018_1
ファイル | ライセンス |
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trnit2018_1.pdf (4.6 MB) sha256 8e499670c58d4e03b3ce60b91b932523e5b5f2cd600410c1d6e1ff05754528e5 |
公開日 | 2019-06-20 | |||||
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ファイル名 | trnit2018_1.pdf | |||||
本文URL | https://nitech.repo.nii.ac.jp/record/6477/files/trnit2018_1.pdf | |||||
ラベル | 本文_fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 4.6 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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