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  1. セラミックス基盤工学研究センター年報
  2. Vol.5(2005)

検出器多連装型高分解能軌道放射光粉末回折計により測定された回折データの解析法の開発

https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/2282
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/2282
a7c80da0-4d7b-4e98-955f-8065155b0371
名前 / ファイル ライセンス アクション
arnit2005_1-11.pdf 本文_fulltext (444.7 kB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper_04(1)
公開日 2011-08-08
タイトル
タイトル 検出器多連装型高分解能軌道放射光粉末回折計により測定された回折データの解析法の開発
言語 ja
タイトル
タイトル ケンシュツキ タレンソウガタ コウブンカイノウ キドウ ホウシャコウ フンマツ カイセキケイ ニヨリ ソクテイ サレタ カイセキ データ ノ カイセキホウ ノ カイハツ
言語 ja-Kana
タイトル
タイトル Development of Analytical Method for Diffraction Intensity Data Measured with a High-Resolution Synchrotron X-ray Powder Diffractometer
言語 en
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
著者 井田, 隆

× 井田, 隆

ja 井田, 隆

ja-Kana イダ, タカシ

en Ida, Takashi


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日比野, 寿

× 日比野, 寿

ja 日比野, 寿

ja-Kana ヒビノ, ヒサシ

en Hibino, Hisashi


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書誌情報 ja : セラミックス基盤工学研究センター年報
en : Annual report of the Ceramics Research Laboratory Nagoya Institute of Technology

巻 5, p. 1-11, 発行日 2006-03-31
出版者
出版者 名古屋工業大学セラミックス基盤工学研究センター
言語 ja
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 1347-1694
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA11625130
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 A new analytical method to obtain a series of aberration-free diffraction intensity data from the segmented intensity data collectedwith a high-resolution synchrotron X-ray powder diffractometer with a multiple-detector system has been developed. The methodincludes (i) adjustment of variation in peak profiles measured with different detectors, (ii) deconvolution of axial-divergenceaberration, and (iii) removal of asymmetry introduced by the aberration of the beamline optics. The method has been applied toanalyze the diffraction intensity data of a ZnO powder sample (NIST SRM674) measured with a multiple-detector diffractometer(MDS) on the beamline 4B2 at the Photon Factory, KEK in Tsukuba. The characteristics of the beamline aberration had beenseparately evaluated by analyzing the diffraction intensity data of Si powder (NIST SRM640b). It has been confirmed that theobserved asymmetry caused by the aberrations of the beamline-optics and the diffractometer can certainly be removed by the method.As a result, the integrated diffraction intensity can easily be evaluated by profile fitting method based on application of a simplesymmetric model profile function.
言語 en
見出し
大見出し <論文>
言語 ja
見出し
大見出し <Paper>
言語 en
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Ver.1 2023-05-15 13:23:55.292022
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