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A new object mounting structure for use in millimeter-wave scanning near-field microscopy
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/5200
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/52001546268c-f2b6-4c38-bb4c-86916f7e9568
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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本文_fulltext (294.7 kB)
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copyright (c) 2004 by The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers http://search.ieice.org/index.html
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| Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||||||||||||||||||
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| 公開日 | 2012-11-06 | |||||||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||||||
| タイトル | A new object mounting structure for use in millimeter-wave scanning near-field microscopy | |||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||||||||||
| 著者 |
Nozokido, Tatsuo
× Nozokido, Tatsuo
× Nuimura, Shuji
× Hamano, Tetze
× 裵, 鐘石
× Mizuno, Koji
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| 著者別名 | ||||||||||||||||||||||
| 姓名 | Bae, Jongsuck | |||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||
| 姓名 | 裵, 鐘石 | |||||||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||||||
| 姓名 | ベイ, ジョンソク | |||||||||||||||||||||
| 言語 | ja-Kana | |||||||||||||||||||||
| bibliographic_information |
en : IEICE Electronics Express 巻 1, 号 6, p. 144-149, 発行日 2004-06-25 |
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| 出版者 | ||||||||||||||||||||||
| 出版者 | The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers | |||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 1349-2543 | |||||||||||||||||||||
| item_10001_relation_32 | ||||||||||||||||||||||
| 識別子タイプ | NCID | |||||||||||||||||||||
| 関連識別子 | BA77039487 | |||||||||||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||||||||||
| item_10001_relation_34 | ||||||||||||||||||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||||||||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||||||||||
| 関連識別子 | http://dx.doi.org/10.1587/elex.1.144 | |||||||||||||||||||||
| 関連名称 | 10.1587/elex.1.144 | |||||||||||||||||||||
| 内容記述 | ||||||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||||||||
| 内容記述 | An object mounting structure has been developed for use in millimeter-wave scanning near-field microscopy in order to efficiently reduce both unwanted signal fluctuations caused by surface waves within the object to be imaged and reflections from outside the object. The object mount comprises a hemispherical lens with an anti-reflection (AR) layer covering the spherical surface. An object mount for use at a millimeter-wave frequency of 60GHz has been designed and fabricated. Experiments performed at 60GHz show that signal fluctuations resulting from the above two factors can be dramatically reduced using this object mounting structure. | |||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||
