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アイテム
ファンビームCTにおけるデータ収集密度と画質の関係
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/3797
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/37971f696ebd-06c8-4773-941c-81854ce29289
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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Copyright(c)1984 IEICE http://search.ieice.org/index.html
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Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||||||||||||
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公開日 | 2012-11-07 | |||||||||||||||
タイトル | ||||||||||||||||
タイトル | ファンビームCTにおけるデータ収集密度と画質の関係 | |||||||||||||||
言語 | ja | |||||||||||||||
言語 | ||||||||||||||||
言語 | jpn | |||||||||||||||
資源タイプ | ||||||||||||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||||
資源タイプ | journal article | |||||||||||||||
その他(別言語等)のタイトル | ||||||||||||||||
その他のタイトル | ファンビーム CT ニオケル データ シュウシュウ ミツド ト ガシツ ノ カンケイ | |||||||||||||||
言語 | ja-Kana | |||||||||||||||
その他(別言語等)のタイトル | ||||||||||||||||
その他のタイトル | Effects of Data Sampling Rate on Image Quality in Fan-Beam-CT System | |||||||||||||||
言語 | en | |||||||||||||||
著者 |
岩田, 彰
× 岩田, 彰
× 堀場, 勇夫
× 山岸, 信敏
× 鈴村, 宣夫
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著者別名 | ||||||||||||||||
姓名 | Iwata, Akira | |||||||||||||||
bibliographic_information |
ja : 電子通信学会論文誌. D 巻 J67-D, 号 9, p. 997-1004, 発行日 1984-09-20 |
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出版者 | ||||||||||||||||
出版者 | Institute of Electronics, Information and Communication Engineers | |||||||||||||||
言語 | en | |||||||||||||||
ISSN | ||||||||||||||||
収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||||||
収録物識別子 | 0374-468X | |||||||||||||||
item_10001_source_id_32 | ||||||||||||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||||
収録物識別子 | AN00153326 | |||||||||||||||
出版タイプ | ||||||||||||||||
出版タイプ | VoR | |||||||||||||||
出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||||
内容記述 | ||||||||||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||
内容記述 | X線コンピュータ断層像撮影装置は,ここ数年の間に急速に全世界に普及したが,今日,より高度な診断情報を得ることのできるものが要望され,さらに高い画質がCT像に要求されている.このため,高コントラスト空間分解能および低コントラスト濃度分解能の一層の向上が必須であり,また,画質劣化要因である種々のアーチファクトの軽減方式を確立する必要がある.本論文では,CT像の画質要因のうち,空間分解能とアーチファクトについて,それが計測データの収集密度とどのような関係にあるかについて計算機シミュレーションにより定量的に検討した.その結果ファンビームCTシステムにおいて他の再構成パラメータが同一のとき,空間分解能は,角度サンプル間隔よりも投影データサンプル間隔によって決定されることを示した.また角度サンプル不足によるアーチファクトの発生機序を明らかにし,このアーチファクトをある程度以下に抑制するために,計測領域,角度サンプル間隔,投影データサンプル間隔の間に一定の条件があること,さらに,投影データサンプル間隔に依存したアーチファクト量は,投影データのナイキスト周波数以上の被検査体の空間周波数成分の量に比例することを明らかにした. | |||||||||||||||
言語 | ja |