WEKO3
アイテム
Correlation between Strain and Excess Carrier Lifetime in a 3C-SiC Wafer
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/5644
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/56443b34ccb8-efb9-424e-8d8b-80d1564fcce6
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
本文_fulltext (471.9 kB)
|
|
| Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2015-05-27 | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | Correlation between Strain and Excess Carrier Lifetime in a 3C-SiC Wafer | |||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| 言語 | ||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||
| 著者 |
Yoshida, Atsushi
× Yoshida, Atsushi
× Kato, Masashi
× Ichimura, Masaya
|
|||||||||||
| 著者別名 | ||||||||||||
| 姓名 | 加藤, 正史 | |||||||||||
| 著者別名 | ||||||||||||
| 姓名 | 市村, 正也 | |||||||||||
| 書誌情報 |
en : Materials Science Forum 巻 717-720, p. 305-308, 発行日 2012-05 |
|||||||||||
| 出版者 | ||||||||||||
| 出版者 | Trans Tech Publications | |||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| ISSN | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||
| 収録物識別子 | 0255-5476 | |||||||||||
| item_10001_source_id_32 | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||
| 収録物識別子 | AA10695957 | |||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||
| 出版タイプ | AM | |||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||||||||
