WEKO3
アイテム / Correlation between Strain and Excess Carrier Lifetime in a 3C-SiC Wafer / KatoMasashi_2012_A2
KatoMasashi_2012_A2
ファイル | ライセンス |
---|---|
KatoMasashi_2012_A2.pdf (471.9 kB) sha256 df8dec29c0c0510bb2da38b916887435d67bd1bba0312e921e5b03461967b93d |
公開日 | 2015-05-27 | |||||
---|---|---|---|---|---|---|
ファイル名 | KatoMasashi_2012_A2.pdf | |||||
本文URL | https://nitech.repo.nii.ac.jp/record/5644/files/KatoMasashi_2012_A2.pdf | |||||
ラベル | 本文_fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 471.9 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
---|