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高温単結晶Ｘ線回析計の温度検定
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/2229
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/2229f99b2c3d-0253-4e16-aab4-3baee4c6c7ee
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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本文_fulltext (1.5 MB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper_04(1) | |||||||||||||||||
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| 公開日 | 2011-08-11 | |||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||
| タイトル | 高温単結晶Ｘ線回析計の温度検定 | |||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||
| タイトル | コウオン タンケッショウ Ｘセン カイセキケイ ノ オンド ケンテイ | |||||||||||||||||
| 言語 | ja-Kana | |||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||
| タイトル | Temperature Calibration of the High-Temperature Single-Crystal X-Ray Diffractometer | |||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||||||||||||
| 著者 |
王, 俊
× 王, 俊
× 日比野, 寿
× 石澤, 伸夫
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| 書誌情報 |
ja : セラミックス基盤工学研究センター年報 en : Annual report of the Ceramics Research Laboratory Nagoya Institute of Technology 巻 10, p. 43-47, 発行日 2011-03-31 |
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| 出版者 | ||||||||||||||||||
| 出版者 | 名古屋工業大学セラミックス基盤工学研究センター | |||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 1347-1694 | |||||||||||||||||
| 書誌レコードID | ||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||||||
| 収録物識別子 | AA11625130 | |||||||||||||||||
| 著者版フラグ | ||||||||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||||||
| 内容記述 | ||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||||
| 内容記述 | Temperature of the hot-gas crystal heater installed on the high-temperature single-crystal diffractometer with a charge-coupleddevice type area detector has been calibrated, and the temperature distribution around the crystal position has been examined. Taskswere accomplished by (1) the observation of melting of metal samples, and (2) the use of a fine-gage thermocouple. Bothexperiments indicated that the actual temperature (tcryst) at the crystal position on the diffractometer was slightly higher than thesetting temperature (tset) of the crystal heater and their difference (Dt) increased with increasing temperature: for example, Dt was7 ℃ at 300 ℃, 18 ℃ at 600 ℃, and 30 ℃ at 900 ℃. A conversion table from tset to tcryst is presented using a cubic polynomial. | |||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 見出し | ||||||||||||||||||
| 大見出し | <技術レポート> | |||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||
| 見出し | ||||||||||||||||||
| 大見出し | <Technical Report> | |||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
