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  1. 極微デバイス次世代材料研究センター及び窒化物半導体マルチビジネス創生センター報告書
  2. Vol.5(2020)

Si基板上縦型GaN MOSFETの試作とその特性改善に関する研究

https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/6781
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/6781
4e7018b7-9b98-4630-945d-a6742be0b2ab
名前 / ファイル ライセンス アクション
trnit2020_1.pdf 本文_fulltext (3.8 MB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper_04(1)
公開日 2021-09-17
タイトル
タイトル Si基板上縦型GaN MOSFETの試作とその特性改善に関する研究
言語 ja
タイトル
タイトル Fabrication and study of characteristic improvement of vertical GaN MOSFET on Si substrate
言語 en
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
書誌情報 極微デバイス次世代材料研究センター及び窒化物半導体マルチビジネス創生センター報告書

巻 5, 発行日 2020-03
出版者
出版者 名古屋工業大学極微デバイス次世代材料研究センター
言語 ja
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA12925446
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
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Ver.1 2023-05-15 12:58:07.577281
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