WEKO3
アイテム
Si基板上GaN系半導体の評価
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/1600
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/16003161fe0d-6564-415b-88e2-d02bfd131d3f
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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本文_fulltext (2.5 MB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper_04(1) | |||||
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| 公開日 | 2011-08-01 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Si基板上GaN系半導体の評価 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| その他（別言語等）のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | Si キバンジョウ GaN ケイ ハンドウタイ ノ ヒョウカ | |||||
| 著者 |
名古屋工業大学, 極微デバイス機能システム研究センター
× 名古屋工業大学, 極微デバイス機能システム研究センター |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 4369 | |||||
| 姓名 | Research, Center for Nano-Device and System Nagoya Institute of Technology | |||||
| 書誌情報 |
極微デバイス機能システム研究センター報告書 = Technical report at Research Center for Nano-Device and System 巻 6, p. 1-122, 発行日 2009-03 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 名古屋工業大学極微デバイス機能システム研究センター | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AA12036883 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
| フォーマット | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | application/pdf | |||||
