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粉末X線回折パターンからのKα2線と装置収差の影響の除去
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/2328
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/232893c5df92-45b8-441d-8ae6-475f3b0b27c1
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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本文_fulltext (3.5 MB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper_04(1) | |||||||||||||||||||
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| 公開日 | 2011-08-01 | |||||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||||
| タイトル | 粉末X線回折パターンからのKα2線と装置収差の影響の除去 | |||||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||||
| タイトル | フンマツ Xセン カイセキ パターン カラノ Ka２セン ト ソウチ シュウサ ノ エイキョウ ノ ジョキョ | |||||||||||||||||||
| 言語 | ja-Kana | |||||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||||
| タイトル | Elimination of Kα2 Lines and Effects of Instrumental Aberrations from Powder X-ray Diffraction Pattern | |||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||||||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||||||||||||||
| 著者 |
井田, 隆
× 井田, 隆
× 虎谷, 秀穂
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| 書誌情報 |
ja : セラミックス基盤工学研究センター年報 en : Annual report of the Ceramics Research Laboratory Nagoya Institute of Technology 巻 1, p. 23-29, 発行日 2002-03-31 |
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| 出版者 | ||||||||||||||||||||
| 出版者 | 名古屋工業大学セラミックス基盤工学研究センター | |||||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 1347-1694 | |||||||||||||||||||
| 書誌レコードID | ||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | AA11625130 | |||||||||||||||||||
| 著者版フラグ | ||||||||||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||||||||
| 内容記述 | ||||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||||||
| 内容記述 | Experimental peak profiles measured with a conventional powder X-ray diffractometer are approximated by convolutions of the intrinsic diffraction profiles with various kinds of aberrations of the instruments. A new method to remove the effects of the aberrations from the experimental data has been developed. The method is based on the deconvolution by Fourier method combined with scale transformation and interpolation of data. The effects of axial divergence, flat specimen, sample transparency and spectroscopic profile of the source X-ray are eliminated from the entire diffraction pattern in three-step operations. The peak profiles in the deconvoluted data are well modeled by symmetrical functions. The errors in the deconvoluted data propagated from the statistical errors in the source data are also discussed. | |||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||
| 見出し | ||||||||||||||||||||
| 大見出し | <論文> | |||||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||||
| 見出し | ||||||||||||||||||||
| 大見出し | <Papers> | |||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||
