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  1. 研究論文

Initial stage of epitaxial growth at the high temperature of GaAs and AlGaAs on Si by metalorganic chemical vapor deposition

https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/4079
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/4079
22d42453-05f9-4902-bb81-455243974387
名前 / ファイル ライセンス アクション
APL 本文_fulltext (422.6 kB)
Copyright (1991) American Institute of Physics. This article may be downloaded for personal use only. Any other use requires prior permission of the author and the American Institute of Physics.The following article appeared in Applied physics letters, 58(11), pp.1170-1172; 1991 and may be found at http://link.aip.org/link/?apl/58/1170
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2012-11-06
タイトル
タイトル Initial stage of epitaxial growth at the high temperature of GaAs and AlGaAs on Si by metalorganic chemical vapor deposition
言語 en
言語
言語 eng
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
著者 曾我, 哲夫

× 曾我, 哲夫

en Soga, Tetsuo

ja 曾我, 哲夫
ISNI

ja-Kana ソガ, テツオ


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George, T.

× George, T.

en George, T.

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Jimbo, Takashi

× Jimbo, Takashi

en Jimbo, Takashi

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Umeno, Masayoshi

× Umeno, Masayoshi

en Umeno, Masayoshi

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Weber, E. R.

× Weber, E. R.

en Weber, E. R.

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著者別名
姓名 Soga, Tetsuo
言語 en
姓名 曾我, 哲夫
言語 ja
姓名 ソガ, テツオ
言語 ja-Kana
著者別名
姓名 神保, 孝志
著者別名
姓名 梅野, 正義
bibliographic_information en : APPLIED PHYSICS LETTERS

巻 58, 号 11, p. 1170-1172, 発行日 1991-03-18
出版者
出版者 American Institute of Physics
言語 en
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 0003-6951
item_10001_source_id_32
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA00543432
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
item_10001_relation_34
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ DOI
関連識別子 http://dx.doi.org/10.1063/1.104354
関連名称 10.1063/1.104354
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 GaAs and AlGaAs grown directly on Si were characterized by transmission electron microscopy. Both GaAs and AlGaAs grow three‐dimensionally on Si at 750°C. The spacing between GaAs islands is large, while the AlGaAs islands appear to be contiguous for a nominal thickness of 22.5 nm. There is a high density of dislocations, stacking faults, and microtwins in the thin GaAs layer, but drastic reduction of such defects was observed in the planar AlGaAs nucleation layer.
言語 en
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Ver.1 2023-05-15 13:54:46.391577
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