WEKO3
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Characterization of Fine-Pixel X-ray Imaging Detector Array Fabricated by Using Thick Single-Crystal CdTe Layers on Si Substrates Grown by MOVPE
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/6633
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/6633c210a51c-7127-437f-abfa-23e07be0d9cd
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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本文_fulltext (536.0 kB)
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| Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||
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| 公開日 | 2020-11-11 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Characterization of Fine-Pixel X-ray Imaging Detector Array Fabricated by Using Thick Single-Crystal CdTe Layers on Si Substrates Grown by MOVPE | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | journal article | |||||
| 著者 |
Niraula, Madan
× Niraula, Madan× Yasuda, Kazuhito× Tsubota, Shintaro× Yamaguchi, Taiki× Ozawa, Junya× Mori, Takuro× Agata, Yasunori |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 8594 | |||||
| 識別子Scheme | NRID | |||||
| 識別子URI | http://rns.nii.ac.jp/nr/1000020345945 | |||||
| 識別子 | 1000020345945 | |||||
| 姓名 | ニラウラ, マダン | |||||
| 書誌情報 |
IEEE Transactions on Electron Devices 巻 66, 号 1, p. 518-523, 発行日 2019-01 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | IEEE | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 00189383 | |||||
| 書誌レコードID（NCID） | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AA00667820 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | AM | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||
| DOI | ||||||
| 関連タイプ | isVersionOf | |||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1109/TED.2018.2883325 | |||||
| 関連名称 | 10.1109/TED.2018.2883325 | |||||
| フォーマット | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | application/pdf | |||||
