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検出システムの数え落しの影響を受けた観測強度データの統計的な性質
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/2259
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/22599da395a3-f2f7-4a3a-badd-09419c5c524c
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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本文_fulltext (947.3 kB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper_04(1) | |||||||||||||||||||||||
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| 公開日 | 2011-08-10 | |||||||||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||||||||
| タイトル | 検出システムの数え落しの影響を受けた観測強度データの統計的な性質 | |||||||||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||||||||
| タイトル | ケンシュツ システム ノ カゾエ オトシ ノ エイキョウ オ ウケタ カンソク キョウド データ ノ トウケイテキ ナ セイシツ | |||||||||||||||||||||||
| 言語 | ja-Kana | |||||||||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||||||||
| タイトル | Statistical Properties of Measured Intensity Affected by Counting Losses of Detection Systems | |||||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||||||||||||||||||
| 著者 |
井田, 隆
× 井田, 隆
× 大矢, 哲久
× 日比野, 寿
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| 書誌情報 |
ja : セラミックス基盤工学研究センター年報 en : Annual report of the Ceramics Research Laboratory Nagoya Institute of Technology 巻 7, p. 1-5, 発行日 2008-03-31 |
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| 出版者 | ||||||||||||||||||||||||
| 出版者 | 名古屋工業大学セラミックス基盤工学研究センター | |||||||||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 1347-1694 | |||||||||||||||||||||||
| 書誌レコードID | ||||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | AA11625130 | |||||||||||||||||||||||
| 著者版フラグ | ||||||||||||||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||||||||||||
| 内容記述 | ||||||||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||||||||||
| 内容記述 | Statistical variance of x-ray intensity affected by counting loss of detection systems has been experimentally evaluated by a repeatedChipman’s foil method for a laboratory powder x-ray diffractometer and a high-resolution synchrotron powder diffractometer. Theeffects of counting loss were modeled by an intermediately extended dead-time model. It has been found that the statistical varianceis satisfactorily reproduced applying the parameters evaluated by least-squares analyses on the data measured by a single-shot Chipman’smethod. It means that the statistical errors attached to the observed intensity data can appropriately be predicted from the resultsof a rapid calibration measurement. | |||||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||||
| 見出し | ||||||||||||||||||||||||
| 大見出し | <論文> | |||||||||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||||||||
| 見出し | ||||||||||||||||||||||||
| 大見出し | <Paper> | |||||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||||
