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  1. 研究論文

Passivation of dislocations in GaAs grown on Si substrates by phosphine (PH3) plasma exposure

https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/4956
https://nitech.repo.nii.ac.jp/records/4956
c3c8c917-35fc-40b9-91e8-2700b0cbffaf
名前 / ファイル ライセンス アクション
APL 本文_fulltext (192.5 kB)
Copyright (2001) American Institute of Physics. This article may be downloaded for personal use only. Any other use requires prior permission of the author and the American Institute of Physics.The following article appeared in Applied physics letters, 78(22), pp.3463-3465; 2001 and may be found at http://link.aip.org/link/?apl/78/3463
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2012-11-06
タイトル
タイトル Passivation of dislocations in GaAs grown on Si substrates by phosphine (PH3) plasma exposure
言語 en
言語
言語 eng
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
著者 Wang, G.

× Wang, G.

en Wang, G.

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Ogawa, T.

× Ogawa, T.

en Ogawa, T.

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曾我, 哲夫

× 曾我, 哲夫

en Soga, Tetsuo

ja 曾我, 哲夫
ISNI

ja-Kana ソガ, テツオ


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Jimbo, Takashi

× Jimbo, Takashi

en Jimbo, Takashi

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Umeno, Masayoshi

× Umeno, Masayoshi

en Umeno, Masayoshi

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著者別名
姓名 Soga, Tetsuo
言語 en
姓名 曾我, 哲夫
言語 ja
姓名 ソガ, テツオ
言語 ja-Kana
著者別名
姓名 神保, 孝志
著者別名
姓名 梅野, 正義
bibliographic_information en : APPLIED PHYSICS LETTERS

巻 78, 号 22, p. 3463-3465, 発行日 2001-05-28
出版者
出版者 American Institute of Physics
言語 en
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 0003-6951
item_10001_source_id_32
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA00543432
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
item_10001_relation_34
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ DOI
関連識別子 http://dx.doi.org/10.1063/1.1376433
関連名称 10.1063/1.1376433
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 The phosphidization effect on dislocations in GaAs grown on Si substrate (GaAs/Si) has been investigated. It was found that the high density of dislocations in GaAs/Si heteroepitaxial layers largely enhanced the diffusion of phosphorus (P) atoms during the phosphine (PH3) plasma exposure. The incorporated P atoms strongly passivated the electrical states of residual dislocations in GaAs/Si solar cell. As a result, the PH3 plasma exposure largely increased the open circuit voltage (Voc) and the efficiency of GaAs/Si solar cell.
言語 en
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Ver.1 2023-05-15 13:43:45.075128
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